навіны

Мы выкарыстоўваем файлы cookie, каб палепшыць ваш вопыт.Працягваючы прагляд гэтага сайта, вы згаджаецеся з выкарыстаннем файлаў cookie.Дадатковая інфармацыя.
У гэтым інтэрв'ю Джэйсан Фэнт, менеджэр па глабальным маркетынгу Zeus Industrial Products, Inc., і Мэцью Дэвіс, галоўны інжынер-даследчык Luna Innovations, абмяркоўваюць з AZoM выкарыстанне валокнаў ПЭЭК з термофиксированным пакрыццём.
Штаб-кватэра кампаніі Zeus Industrial Products, Inc. размешчана ў Орынджбургу, Паўднёвая Караліна, ЗША.Яе асноўны напрамак дзейнасці - распрацоўка і прэцызійная экструзія сучасных палімерных матэрыялаў.Кампанія налічвае 1300 чалавек па ўсім свеце і мае вытворчыя магутнасці ў Айкене, Гастане і Аранджбургу, Паўднёвая Караліна, Бранчбургу, Нью-Джэрсі і Летэркені, Ірландыя.Прадукты і паслугі Zeus абслугоўваюць кампаніі ў медыцынскай, аўтамабільнай, аэракасмічнай прамысловасці, валакне, энергіі і вадкасцях.
Зыходзячы з патрабаванняў заказчыка, мы вырашылі выкарыстоўваць экструдаваны PEEK у якасці валаконна-аптычнага пакрыцця.Суадносіны трываласці і вагі PEEK, высокая рабочая тэмпература і радыяцыйная ўстойлівасць робяць яго цікавым матэрыялам для датчыкаў у цяжкіх умовах, такіх як энергетыка, аэракасмічная і аўтамабільная прамысловасць.Прыкладанні, якія выйграюць ад PEEK, уключаюць абарону ўбудаваных датчыкаў для структурнага маніторынгу або кампазітных кампанентаў для аэракасмічнай прамысловасці.Палепшаная зносаўстойлівасць і магчымасць перадачы нагрузкі таксама робяць яго прывабным прадуктам для свідравіннага або падводнага зондзіравання.
Асноўныя перавагі PEEK ўключаюць яго біясумяшчальнасць, высокую чысціню і ўстойлівасць да аксіду этылену, гама-выпраменьвання і аўтаклававання.Здольнасць PEEK супрацьстаяць шматразовым згінанням і ізаляцыі робіць яго цікавым выбарам для хірургічнай робататэхнікі.Разважаючы пра PEEK як пакрыццё для валаконнай оптыкі, мы выявілі, што гэты матэрыял зніжае змяненне пазіцыі і павялічвае тэрмін службы, у той жа час дазваляючы ўспрымаць і перадаваць дэфармацыю, вібрацыю, ціск і іншыя фактары навакольнага асяроддзя.
PEEK дэманструе трываласць на сціск і нестабільнасць пры тэмпературных ваганнях, што можа прывесці да паломкі.Пры працы з валокнамі, якія змяшчаюць краты, могуць узнікнуць праблемы.Мы выявілі, што ў характарыстыках Брэгга валакна сціск выклікае пікавыя скажэнні.
Наша мэта ў Zeus - забяспечыць валакно з пакрыццём PEEK, якое будзе стабільным пры экстрэмальных ваганнях тэмпературы, дазваляючы валакну захоўваць перавагі пакрыцця PEEK перад ваганнямі тэмператур і абараняючы валакно ад сціску з-за згасання.
OBR 4600 ад Luna - гэта першы ў галіны рэфлектометр звышвысокага раздзялення з нулявой мёртвай зонай і адчувальнасцю да зваротнага рассейвання Рэлея для валаконна-аптычных кампанентаў або сістэм.OBR выкарыстоўвае кагерэнтную інтэрфераметрыю з размахам даўжыні хвалі для вымярэння малюсенькіх адлюстраванняў у аптычнай сістэме ў залежнасці ад яе даўжыні.Гэты метад вымярае поўнамаштабны водгук прылады, уключаючы фазу і амплітуду.Затым ён прадстаўлены ў графічным выглядзе, забяспечваючы карыстальнікам беспрэцэдэнтную магчымасць тэсціравання і дыягностыкі кампанентаў або сетак.
Адной з пераваг выкарыстання OBR з'яўляецца магчымасць вымяраць эвалюцыю стану палярызацыі ўздоўж валакна, што дае ўяўленне аб размеркаваным падвойным лучепреломлении.У гэтым выпадку мы вымералі і параўналі стан палярызацыі валакна з PEEK-пакрыццём і эталоннага валакна.Эвалюцыя стану палярызацыі прымача OBR з даўжынёй валакна выглядае так, як мы чакалі б для сагнутага ўчастка валакна, дзе перыяд станаў S і P на краі складае парадку некалькіх метраў.адпавядае даўжыні біццяў падвойнага праламлення, выкліканых скручваннем валакна.Пры разглядзе адрозненняў паміж эталонам і PEEK не назіраецца супярэчнасцей, што сведчыць аб мінімальнай пастаяннай дэфармацыі падчас працэсу нанясення пакрыцця, якая ўплывае на аптычныя ўласцівасці.
Сярэдняя змена згасання валакна з ПЭЭК-пакрыццём падчас змены тэмпературы было менш за 0,02 дэцыбела (дБ) у параўнанні з кантрольным валакном.Гэта змяненне паказвае на тое, што на стабільнасць PEEK істотна не ўплываюць змены тэмпературы або цеплавы ўдар.Было таксама заўважана, што страты валакна з пакрыццём PEEK былі значна ніжэй, чым у кантрольнага валакна пры самым вузкім радыусе выгібу.
Асноўнае пакрыццё валакна павінна вытрымліваць наш запатэнтаваны працэс.Выканальнасць можа быць вызначана ў значнай ступені шляхам прагляду тэхнічных лістоў валакна і пацверджання магчымасці працэсу з дапамогай кароткатэрміновага тэставання.На гэта таксама ўплываюць жаданыя ўласцівасці канчатковага прадукту.
Мы прабеглі кіламетр звёнаў.Аднак якасць валакна, характарыстыкі канчатковага прадукту і многія іншыя параметры могуць вызначыць фактычную бесперапынную даўжыню, якую мы можам атрымаць.Гэта тое, што нам давядзецца вырашаць у кожным канкрэтным выпадку.
PEEK нельга лёгка аддзяліць рукамі.Яго можна эфектыўна выдаліць тэрмічным або хімічным спосабам.Ёсць некаторыя камерцыйныя стрыптызёры, якія могуць выдаліць PEEK, але вы павінны пракансультавацца з вытворцам аб тым, як гэта ўплывае на колькасць выкарыстанняў паміж ачысткамі і іншыя параметры, звязаныя з выкарыстаннем.PEEK можа быць выдалены хімічным шляхам з дапамогай метадаў, падобных да тых, якія звычайна выкарыстоўваюцца для поліімідаў.
З нашага досведу мы не бачылі ніякай карэляцыі паміж таўшчынёй і характарыстыкамі самога валакна.
Аптычныя рэфлектометры ў часовай вобласці атрымліваюць інфармацыю аб адлегласці адлюстравання, пасылаючы кароткія імпульсы святла і запісваючы час, неабходны для вяртання адлюстраванага святла.Асабліва яркае адлюстраванне асляпляе прыёмнік на кароткі час, што робіць немагчымым назіранне другога піку адлюстравання ў «мёртвай зоне» за першым пікам адлюстравання.
OBR заснаваны на рэфлектометрыі ў аптычнай частотнай вобласці.Ён скануе наладжвальны лазер у шырокім дыяпазоне аптычных частот, стварае інтэрферэнцыю лакальнай копіі лазернага прамяня, які вяртаецца ад тэставай прылады, запісвае атрыманыя паласы і разлічвае адлегласць да пэўнай падзеі адлюстравання на аснове частаты інтэрферэнцыі.Гэты працэс эфектыўна аддзяляе святло, адлюстраванае ад суседніх кропак уздоўж валакна, без праблем з «мёртвай зонай».
Дакладнасць адлегласці звязана з дакладнасцю наладжвальных лазераў, якія мы выкарыстоўваем для сканавання даўжынь хваль для вымярэнняў.Лазер адкалібраваны з выкарыстаннем унутранай газапаглынальнай ячэйкі, сертыфікаванай NIST, для каліброўкі даўжыні хвалі пры кожным сканаванні.Дакладнае веданне аптычнага дыяпазону частот для лазернага сканавання прыводзіць да дакладных ведаў аб маштабаванні адлегласці.Гэта дазваляе OBR забяспечваць самае высокае прасторавае разрозненне і дакладнасць сярод камерцыйных OTDR на сучасным рынку.
Наведайце zeusinc.com, каб даведацца больш пра тэрмастабілізаванае аптычнае валакно з пакрыццём PEEK, у тым ліку тэставыя даследаванні і тэхнічную інфармацыю, або звяжыцеся з Джэйсанам Фантам, глабальным менеджарам па маркетынгу аптычнага валакна, па адрасе [email protected]
Наведайце Lunainc.com, каб даведацца больш пра абсталяванне для тэсціравання валакна, або звярніцеся да Мэцью Дэвіса, галоўнага інжынера-даследчыка па адрасе [электронная пошта абаронена].
Ён адказвае за рынак і развіццё бізнесу ў валаконна-аптычнай прамысловасці.Уладальнік зялёнага пояса Six Sigma, Фунт сертыфікаваны IAPD і член SPIE.
Эксперты па ўкараненні тэхналогіі валаконна-аптычных датчыкаў у суровых умовах, такіх як газатурбінныя рухавікі, аэрадынамічныя трубы і ядзерныя рэактары.
Адмова ад адказнасці: меркаванні, выказаныя тут, з'яўляюцца меркаваннямі апытаных і неабавязкова адлюстроўваюць погляды AZoM.com Limited (T/A) AZoNetwork, уладальніка і аператара гэтага сайта.Гэта адмова ад адказнасці з'яўляецца часткай умоў выкарыстання гэтага сайта.
Родам з Ірландыі, Мікеала скончыла Універсітэт Нартумбрыі ў Ньюкасле са ступенню бакалаўра англійскай літаратуры і журналістыкі.Яна пераехала ў Манчэстэр пасля года падарожжаў па Азіі і Аўстраліі.У вольны час Мішэль бавіць час з сям'ёй і сябрамі, ходзіць у паходы, ходзіць у трэнажорную залу/займаецца ёгай і як ніхто іншы пагружаецца ў апошнія серыялы Netflix.
Zeus Industrial Products Inc. (2019, 22 студзеня).Выкарыстоўвайце пакрыццё PEEK для аптычных валокнаў.AZ.Атрымана 17 лістапада 2022 г. з https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=13764.
Zeus Industrial Products, Inc. «Выкарыстанне PEEK-пакрыццяў для аптычных валокнаў».AZ.17 лістапада 2022 г.17 лістапада 2022 г.
Zeus Industrial Products, Inc. «Выкарыстанне PEEK-пакрыццяў для аптычных валокнаў».AZ.https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=13764.(Па стане на 17 лістапада 2022 г.).
Zeus Industrial Products, Inc. 2019. Выкарыстоўвайце PEEK-пакрыцці для аптычных валокнаў.AZoM, доступ 17 лістапада 2022 г., https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=13764.
AZoM размаўляе з Сокхэнам «Шонам» Чоі, прафесарам кафедры электратэхнікі і вылічальнай тэхнікі Універсітэта штата Нью-Йорк. AZoM размаўляе з Сокхэнам «Шонам» Чоі, прафесарам кафедры электратэхнікі і вылічальнай тэхнікі Універсітэта штата Нью-Йорк.AZoM размаўляе з Сохунам «Шонам» Чоі, прафесарам кафедры электратэхнікі і вылічальнай тэхнікі Універсітэта штата Нью-Ёрк.AZoM узяў інтэрв'ю ў Сокхёна "Шона" Чоя, прафесара кафедры электратэхнікі і вылічальнай тэхнікі Універсітэта штата Нью-Ёрк.Яго новае даследаванне падрабязна апісвае вытворчасць прататыпаў друкаваных плат, надрукаваных на аркушы паперы.
У нашым нядаўнім інтэрв'ю AZoM узяў інтэрв'ю ў доктара Эн Мэер і доктара Элісан Сантора, якія ў цяперашні час супрацоўнічаюць з Nereid Biomaterials.Група стварае новы біяпалімер, які можа расшчапляцца мікробамі, якія разбураюць біяпластык у марскім асяроддзі, што набліжае нас да i.
У гэтым інтэрв'ю распавядаецца, як ELTRA, частка Verder Scientific, вырабляе аналізатары элементаў для цэха зборкі батарэй.
TESCAN прадстаўляе сваю зусім новую сістэму TENSOR, распрацаваную для 4-STEM звышвысокага вакууму для мультымадальнай характарыстыкі нанапамерных часціц.
Spectrum Match - гэта магутная праграма, якая дазваляе карыстальнікам шукаць падобныя спектры ў спецыялізаваных спектральных бібліятэках.
BitUVisc - гэта ўнікальная мадэль вісказіметра, якая можа апрацоўваць узоры з высокай глейкасцю.Ён прызначаны для падтрымання тэмпературы ўзору на працягу ўсяго працэсу.